• JTAG測試應用解決方案

    日期:2021-06-12 01:03
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    摘要:
    基于IEEE1149標準的JTAG測試應用解決方案

    1 邊界掃描(boundaryscan)JTAG測試系統方案概述

       隨著通訊電子技術發展,芯片、單板、系統的復雜度不斷提高,體積不斷縮小,測試的難度、成本、周期都在急劇增加,基于IEEE1149標準的邊界掃描(boundary scan)JTAG測試技術就是在這種背景下應運而生的,并成為業界*成熟的DFT技術。
        金鵬飛科技經過不懈努力,自主開發了金鵬飛邊界掃描(boundaryscan)JTAG
    測試系統平臺。該JTAG測試產品符合電氣電子工程協會IEEE1149標準,可應用于產品設計、原型調試、生產測試、現場安裝、維修服務等產品生命周期的全過程JTAG測試需求,對降低測試難度、提高測試質量、提高產品故障定位能力等各個方面都有重大意義。
     

     

    2 邊界掃描(boundaryscan)JTAG測試系統平臺

    2.1JTAG產品概述

    JTAG測試系統軟件平臺全中文界面,支持WINDOWS NT/2000/XP,自動化程度高,操作便捷 邊界掃描(boundary-scan)JTAG測試系統平臺以下一代測試平臺為目標,產品功能特色顯著:提供開發調試、小批量驗證、批量生產和市場服務的綜合JTAG測試解決方案;集成電路板級/系統級工藝測試診斷、ISP編程、開發調試功能;提供開放的工業級標準腳本開發語言;提供多功能非BS擴展測試;提供文檔鎖定功能;支持邏輯功能自學習功能;兼容各種標準數據接口等。

    2.2邊界掃描(boundaryscan)JTAG測試系統平臺功能

    JTAG掃描鏈路分析測試

    BS器件安裝檢查

    ◆電路板DFT設計檢查

    ◆電路板工藝互連測試

    ◆故障定位診斷

    非BS擴展測試

    ◆物理接口測試

    ◆電路板可靠性驗證

    CLUSTER邏輯功能驗證

    ASIC芯片功能驗證

    ◆信號采樣調試

    CPU讀寫調試

    FLASH加載

    ◆存儲器測試

    FPGA/EPLD編程

    2.3邊界掃描(boundary scan)JTAG測試平臺軟件

    模塊功能描述
    基礎管理模塊JTAG測試工程管理完成JTAG測試工程建立、打開、關閉等操作; 完成對BSDL/網表等JTAG測試工程信息的編譯。 完成JTAG測試掃描鏈編輯、配置及切換操作;
    JTAG測試基礎測試完成JTAG掃描鏈路自檢功能。
    JTAG測試IDCODE測試完成對邊界掃描(boundary-scan)器件的IDCODE校驗JTAG測試; 確認器件的生產廠商、類型及版本等信息。 確認BS器件安裝是否正確,排除錯焊、漏焊等缺陷;
    JTAG測試USERCODE測試完成USERCODE校驗JTAG測試; 確認是否為客戶軟硬件版本等相關信息;
    JTAG測試庫管理完成JTAG測試CPU庫、FLASH庫、合并庫等資料的管理;
    生產測試模塊互連JTAG測試完成基礎可測試網絡自動互連JTAG測試; 完成擴展可測試網絡自動互連JTAG測試;完成電阻、244等器件網絡自動優化處理,提高JTAG測試覆蓋率和自動化程度。完成多種互連JTAG測試算法,自動產生JTAG測試矢量[ATPG]; 完成多種JTAG測試故障診斷算法,故障定位及效率大大提升。
    腳本JTAG測試提供標準工業級腳本測試功能; 支持工程師實現各種交互測試功能的JTAG測試二次開發:FIFO總線、RAM總線、PCI總線等,可以使用腳本對各信號進行控制,從而完成相關的功能測試; 支持對外圍接口電路進行仿真測試;支持對非BS器件擴展的JTAG測試開發:支持AD、DA、接插件及其他非BS器件信號的測試,有效提升JTAG測試覆蓋率;支持資源共享和JTAG測試項的快速開發;
    存儲器JTAG測試完成存儲器外圍互連JTAG測試和單元功能測試; 支持多種測試算法自動生成JTAG測試矢量; 支持存儲器的BIST JTAG測試; 完成多種缺陷的JTAG測試檢測定位;
    RUNBISTJTAG測試完成BIST結構芯片的內部功能JTAG自測試; 支持ASIC芯片設計的JTAG驗證測試;
    INTESTJTAG測試完成芯片的INTEST內部功能比對JTAG測試; 支持ASIC芯片設計的JTAG測試驗證 ;
    自學習JTAG測試完成組合邏輯電路、時鐘信號及網絡短路故障的自學習JTAG測試覆蓋,提高JTAG測試覆蓋率和自動化測試能力;
    CLUSTERJTAG測試完成非BS組合邏輯電路功能的比對JTAG測試,提升JTAG測試效率和覆蓋率;
    JTAG測試列項管理完成各項目的列表JTAG測試功能; 自動生成加載各種JTAG測試項,甚至包括測試腳本的執行等,簡化生產測試操作,提高生產測試操作效率,降低出錯的可能性。支持文件鎖定功能,具有下一帶測試工具顯著特征;
    數據加載模塊FLASH加載完成單板焊接完成后各種通用FLASH的在線加載和E2PROM的在板編程; 支持狗電路處理或異常的電路設計
    PLD/FPGA編程完成PLD/FPGA加載。 支持SVF文件格式。
    開發調試模塊JTAG測試網絡覆蓋分析完成網絡進行JTAG測試分類和統計; 完成DFT開發評估指導; 自動生成EXECL格式的JTAG測試覆蓋率報告;
    JTAG測試規范檢查完成對設計原理圖的網表分析,確保JTAG測試掃描鏈設計符合規范要求;
    JTAG測試故障插入完成各BS器件的定時失效測試,驗證單板的容錯性能。支持攻擊型容錯測試的典型手段;
    CPU讀寫JTAG測試完成CPU讀寫操作仿真,靈活存取各存儲器和寄存器數據;支持圖形顯示接口;
    電路采樣JTAG測試完成芯片正常工作下的芯片引腳信號采樣、觀察和分析。 支持圖形化顯示。

    2.4邊界掃描(boundary scan)JTAG測試平臺硬件

    模塊模塊名功能應用場合

    并口JTAG控制器

    LPT JTAG

    提供并行端口的 JTAG信號輸出

    JTAG測試、

    研發仿真調試

    PCI總線 JTAG 控制器PCI JTAG提供PCI總線接口的 JTAG 信號輸出JTAG測試、PLD/FPGA編程、FLASH加載
    USB總線 JTAG 控制器USB JTAG提供USB總線接口的JTAG信號輸出JTAG 測試、PLD/FPGA編程、FLASH加載

    3 邊界掃描(boundaryscan)JTAG測試平臺價值

    ◆優化用戶測試策略和測試流程;

    ◆加強了客戶對復雜產品的生產測試和現場維修測試能力;

    ◆提高可測試性設計水平;

    ◆提高了知識傳播效率和產品測試程序的及時性和有效性;

    ◆提升產品質量;

    改善因產品復雜性和密度增加導致的測試難度;

    改善用戶測試故障覆蓋率;

    完善可靠性測試手段;

    ◆縮短產品上市時間;

    縮短原型調試時間;

    縮短生產測試裝備開發時間;

    縮短生產準備時間;

    縮短電路板測試和編程時間;

    縮短故障定位診斷時間;

    降低了對功能測試的依賴性,有助于突破功能測試的效率瓶頸;

    ◆降低生產測試成本

    降低可編程器件的物流成本;

    降低自動測試設備投資;

    降低人員培訓成本;

    降低市場維修服務成本和難度;

    ◆提供標準的ASIC邏輯設計測試驗證工具;

    ◆靈活的在線加載能力提升了產品定制能力;

    粵公網安備 44030602001522號

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